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portada failure mechanisms in semiconductor devices (en Inglés)
Formato
Libro Físico
Editorial
Año
1997
Idioma
Inglés
N° páginas
358
Encuadernación
Tapa Dura
Dimensiones
23.6 x 16.6 x 2.6 cm
Peso
0.62 kg.
ISBN
0471954829
ISBN13
9780471954828
N° edición
0002

failure mechanisms in semiconductor devices (en Inglés)

E. Ajith Amerasekera (Autor) · Farid N. Najm (Autor) · Wiley · Tapa Dura

failure mechanisms in semiconductor devices (en Inglés) - Amerasekera, E. Ajith ; Najm, Farid N.

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Reseña del libro "failure mechanisms in semiconductor devices (en Inglés)"

In dieser zweiten, aktualisierten Auflage identifizieren die Autoren die Ursachen und Mechanismen, die zu Ausfällen von Halbleiterbauelementen führen. Durch Erkennungsmethoden und Technologien zur Vermeidung von Defekten, die in diesem Buch ausführlich beschrieben werden, wird die Zuverlässigkeit der Bauelemente in der Praxis entscheidend bestimmt.

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El libro está escrito en Inglés.
La encuadernación de esta edición es Tapa Dura.

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