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portada Atomic Force Microscopy in Adhesion Studies (en Inglés)
Atomic Force Microscopy in Adhesion Studies (en Inglés)Atomic Force Microscopy in Adhesion Studies (en Inglés)Atomic Force Microscopy in Adhesion Studies (en Inglés)
Formato
Libro Físico
Editorial
Autor
Idioma
Inglés
N° páginas
822
Encuadernación
Tapa Dura
Peso
3
ISBN
906764434X
ISBN13
9789067644341
Categorías

Atomic Force Microscopy in Adhesion Studies (en Inglés)

Drelich, J. ; Mittal, Kash L. (Autor) · CRC Press · Tapa Dura

Atomic Force Microscopy in Adhesion Studies (en Inglés) - Drelich, J. ; Mittal, Kash L.

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Reseña del libro "Atomic Force Microscopy in Adhesion Studies (en Inglés)"

Since its discovery, Atomic Force Microscopy (AFM) has become a technique of choice for non-destructive surface characterization with sub-molecular resolution. The AFM has also emerged as a problem-solving tool in applications relevant to particle-solid and particle-liquid interactions, design, fabrication, and characterization of new materials, and development of new technologies for processing and modification of materials. This volume is a comprehensive review of AFM techniques and their application in adhesion studies. It is intended for both researchers and students in engineering disciplines, physics and biology. Over 100 authors contributed to this book, summarizing current status of research on measurements of colloidal particle-solid adhesion and molecular forces, solid surface imaging and mapping, and discussing the contact mechanics models applicable to particle-substrate and particle-particle systems.

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