Name: Fondamenti e applicazioni della microscopia a forza atomica (en Italiano)
Price: 29933.00 CRC
Availability: InStock
Author: Solanki, Vanarajsinh ; Dasadiya, Abhay ; Mishra, Pramita
ISBN: 9786204698052

portada Fondamenti e applicazioni della microscopia a forza atomica (en Italiano)

Fondamenti e applicazioni della microscopia a forza atomica (en Italiano)

Formato

Libro Físico

Autor

Editorial

Idioma

Italiano

N° páginas

Encuadernación

Tapa Blanda

Dimensiones

22.9 x 15.2 x 0.3 cm

Peso

0.09 kg.

ISBN13

9786204698052

Categorías

Sistemas operativos

Fondamenti e applicazioni della microscopia a forza atomica (en Italiano)

Vanarajsinh Solanki (Autor) · Abhay Dasadiya (Autor) · Pramita Mishra (Autor) · Edizioni Sapienza · Tapa Blanda

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Reseña del libro "Fondamenti e applicazioni della microscopia a forza atomica (en Italiano)"

Questo libro si concentra sul principio di funzionamento dell'AFM, le sue diverse modalità (cioè, contatto, non contatto e tapping), l'analisi di alcuni risultati AFM e anche alcune applicazioni. Questo libro sottolinea anche le caratteristiche dell'AFM come strumento morfologico altamente versatile e utile per la scansione di una grande varietà di superfici, con una risoluzione planare che va da nano -metro sclae fino alla scala atomica. Speriamo che questo libro possa essere utile al ricercatore e allo studente per comprendere il concetto di base dell'AFM e per eseguire con esso diversi tipi di campioni.

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